主要规格及技术指标

1.加速电压： 200 kV～300 kV
2.点分辨率：0.20 nm
3.线分辨率：0.102 nm
4.信息限度：0.14 nm
5.TEM放大倍数范围 60 Χ -1000kx
6.相机长度（mm）80 - 4，500
7. 最大衍射角度 ±12
8.STEM-HAADF分辨率：0.19 nm
9.STEM放大倍数范围：150 Χ -230Mx
10. 能谱分辨率：≤ 136 eV
11.能量过滤器分辨率：≤ 0.9 eV

主要附件及配置

无

主要功能及特色

1.主要功能：
1.1 电子衍射和衍衬分析
1.2 高分辨电子显微成像(HRTEM)
1.3 扫描透射成像（STEM）
1.4 X射线能量色散谱(EDS)分析
1.5 电子能量损失谱(EELS)及能量过滤像(EFTEM)技术
1.6 电子三维重构(Tomography)

2.特色：
2.1 灵活的高电压设置，能够在数分钟内更改高电压值，以保持最佳实验条件。
2.2 场发射系统提供更好的相干性和更高的亮度。
2.3 300 kV的电子束提供更高的分辨率和更好的样品穿透效果。
2.4 多种可选的FEI应用软件解决方案，如S/TEM断层摄影软件包和TrueImage™焦点系列重构。